SN74F280BDR_集成電路(IC) 奇偶校驗發(fā)生器校驗器-德州儀器

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原廠料號:SN74F280BDR品牌:Texas Instruments

資料說明:IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC

SN74F280BDR是集成電路(IC) > 奇偶校驗發(fā)生器和校驗器。制造商TI2/德州儀器生產封裝14-SOIC(0.154",3.90mm 寬)的SN74F280BDR奇偶校驗發(fā)生器和校驗器邏輯奇偶校驗發(fā)生器和校驗器系列器件是元件級器件,用于評估設置為 1 的數字字中的位數,并另外生成(或評估)一個奇偶校驗位,指示設置為 1 的字中的位數是偶數還是奇數。此功能通常用作檢測在傳輸過程中可能引入的數據錯誤的簡單方法。

  • 芯片型號:

    sn74f280bdr

  • 規(guī)格書:

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  • 企業(yè)簡稱:

    TI2【德州儀器】詳情

  • 廠商全稱:

    Texas Instruments

  • 中文名稱:

    美國德州儀器公司

  • 資料說明:

    IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC

產品屬性

  • 類型

    描述

  • 產品編號:

    SN74F280BDR

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 類別:

    集成電路(IC) > 奇偶校驗發(fā)生器和校驗器

  • 系列:

    74F

  • 包裝:

    卷帶(TR)剪切帶(CT)Digi-Reel? 得捷定制卷帶

  • 邏輯類型:

    奇偶校驗發(fā)生器/校驗器

  • 電路數:

    9 位

  • 電流 - 輸出高、低:

    1mA,20mA

  • 工作溫度:

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型:

    表面貼裝型

  • 封裝/外殼:

    14-SOIC(0.154",3.90mm 寬)

  • 供應商器件封裝:

    14-SOIC

  • 描述:

    IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC

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